. Electron microscopy; proceedings of the Stockholm Conference, September, 1956. Electron microscopy. Observation directe des surfaces metalliques par reflexion C. Fert Laboratoire d'Optiqiie Electroniqiie, Toulouse Au cours des dernieres annees, I'observation directe des surfaces par reflexion d'electrons a donne lieu a diverses recherches, et plusieurs communications de ce congres sont consacrees aux applications de cette methode. Je desire presenter ce probleme du point de vue du physicien, en insistant sur les faits nouveaux depuis le Congres de Londres (1954). Generalites.âDans un microsc
. Electron microscopy; proceedings of the Stockholm Conference, September, 1956. Electron microscopy. Observation directe des surfaces metalliques par reflexion C. Fert Laboratoire d'Optiqiie Electroniqiie, Toulouse Au cours des dernieres annees, I'observation directe des surfaces par reflexion d'electrons a donne lieu a diverses recherches, et plusieurs communications de ce congres sont consacrees aux applications de cette methode. Je desire presenter ce probleme du point de vue du physicien, en insistant sur les faits nouveaux depuis le Congres de Londres (1954). Generalites.âDans un microscope electronique par « reflexion », Tobjet est « eclaire » par un faisceau d'electrons monocinetiques. Les electrons diffuses dans la direction de Tobjectif servent a la formation de I'imagei. L'axe du faisceau qui eclaire I'objet est incline par rapport a Taxe de Tobjectif d'un angle d^ -r 0, (fig. 1). L'objet est eclaire sous un angle 0^ (angle d'eclaire- ment). La surface de Tobjet fait avec l'axe de I'objectif un angle 6. (angle d'observation). Angle 02 et distorsion de I'image : L'image qui se forme sur I'ecran est celle de la projection de la surface de l'objet sur le plan de front conjugue de I'ecran. Soit Mi le grandissement. Si un quadrillage carre de cote a est trace sur ^objet^ l'image de chaque carre est un rectangle de cote Mi a et M^ sin Oo a. On parle de deux grandissements caracte- ristiques Mj et M. = Mi/sin 6.,. On peut dire que le rapport M2/M1 = sin d.^ caracterise une « distorsion » de l'image. Angle 61 et sensibilite au relief : Nous verrons que 6*1 est toujours petit devant (I. â I'eclairage est tres rasant. Les asperites de l'objet portent ombre sur sa surfaced Si 0^ est tres petit, les ombres sont tres l=h sin (Oi + gg) sin Oi allongees, la sensibilite au relief tres bonne : une asperite de quelques millimicrons est mise en evi- dence. Cette cause de contraste est preponderante devant toutes les autres, ce qui distingue nettement la
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