. Electron microscopy; proceedings of the Stockholm Conference, September, 1956. Electron microscopy. Bolzenkatlwde als Ohjekt im Elektronen-Emissionsmikroskop 37. Fig. 5. Fig. 6. Fig. 5. Loch in Formvartblic, ubcrfokussiert. 100 000:1. Fig. 6. FeinstruktLir in MgO-Beugungsdiagramm, nachver- groBert 9:1. schirm transportiert werden. Die Belichtung erfoigt durch Hochklappen des Leuchtschirmes. AuBenphotographie mittels einer Contax. Hierzu wird die Photoplatte aus dem Strahlengang entfernt und durch einen Durchsichtleuchtschirm ersetzt. Das dort nach Hochklappen des Aufsichtleuchtschirms entste
. Electron microscopy; proceedings of the Stockholm Conference, September, 1956. Electron microscopy. Bolzenkatlwde als Ohjekt im Elektronen-Emissionsmikroskop 37. Fig. 5. Fig. 6. Fig. 5. Loch in Formvartblic, ubcrfokussiert. 100 000:1. Fig. 6. FeinstruktLir in MgO-Beugungsdiagramm, nachver- groBert 9:1. schirm transportiert werden. Die Belichtung erfoigt durch Hochklappen des Leuchtschirmes. AuBenphotographie mittels einer Contax. Hierzu wird die Photoplatte aus dem Strahlengang entfernt und durch einen Durchsichtleuchtschirm ersetzt. Das dort nach Hochklappen des Aufsichtleuchtschirms entstehende Fluoreszenz-Bild wird, wie aus Fig. 2 zu ersehen ist, nach auBen auf den Film der Contax im Verhiiltnis 1:2,5 verkleinert abgebildet. Zu diesem Zweck ist die Contax mit einem serienmaBigen Son- nar 1:1,5; /=50 mm und einem Nahaufnahme- Vorsatzobjektiv ausgeriistet. In schneller Reihen- folge konnen damit 36 Aufnahmen im Format 24 36 mm gcmacht werden. Das auf diese Weise er- zeugte Rild erreicht vvegen der mangolnden Feinhcit der heute herstellbaren Durchsichtleuchtschirmc al- lerdings nicht die Quaiitiit der mittels Innenphoto- graphie gevvonncnen Aufnahmen (Fig. 4). Das Ver- fahren ist deshalb im allgemeinen nur fur Reihcnauf- nahmen zu empfehlen, bci dencn es nicht auf hoch- sles Aullosungsvermogen ankommt. Es ist beabsichtigt, zusiitzlich cine klcine Auf- dampfapparatur (2) /u licfern, die direkt an die Photoplattenkammer angeschlossen werden kann. Sie ist so dimensioniert, daB die im Flektronen- mikroskop vorhandene Vakuum-Einrichtung be- nutzt werden kann. Ihr Anwendungsbereich ist aller- dings auf die iibliche Schriigbedampfung, vorwiegend mit Wolframoxyd und Eisen, beschriinkt. Als weitcrer Zusatz ist ein Lupenaufsatz vorge- sehen, durch den das auf dem Leuchtschirm entste- hende Bild von 3 Seiten in 1,6facher VergroBerung betrachtet werden kann. Die Abb. 3-6 geben einige mit dem hier beschrie- benen Geriit gemachten Aufnahmen wieder. Die konstruktive Bearbeitung
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