. Electron microscopy; proceedings of the Stockholm Conference, September, 1956. Electron microscopy. ^ Fig. 3. Ces pieces poiaires percees d'un canal de meme dia- metre D et espacees d'un meme entrefer S donnent meme topographic pour une meme excitation inferieure a 1000 5 ampere-tours (5, en millimetres). Cette topographie est celle qui correspond a une permeabilite magnetique infinie. AnNI 'M- K^- + )' Le principal interet de cette assimilation est de faire apparaitre un parametre geometrique carac- teristique de la lentille : L = VS" + 0,45 D^. L'expression de la topographie qui
. Electron microscopy; proceedings of the Stockholm Conference, September, 1956. Electron microscopy. ^ Fig. 3. Ces pieces poiaires percees d'un canal de meme dia- metre D et espacees d'un meme entrefer S donnent meme topographic pour une meme excitation inferieure a 1000 5 ampere-tours (5, en millimetres). Cette topographie est celle qui correspond a une permeabilite magnetique infinie. AnNI 'M- K^- + )' Le principal interet de cette assimilation est de faire apparaitre un parametre geometrique carac- teristique de la lentille : L = VS" + 0,45 D^. L'expression de la topographie qui resulte de cette assimilation est generalisable a une lentille dissymetrique (fig. 5). ib) Si Texcitation est superieure a 1000 5" tout se passe comme si 5 et D etaient multiplies (fig. 6) par le facteur : /;; NI-WOOS T0005 ni est un coefficient numerique qui depend de la forme des faces poiaires. II est minimum et proche. Fig. 4. Pour une permeabilite infinie et en pratique pour une excitation inferieure a 1000 S amperes-tours, la topographie obtenue est assimilable a celle d'un solenoide de longueur 5, de diametre - ., D et d'excitation NI. En tout point de I'axe rinduction a pour expression B iTlNI (cos a + cos /3).. Please note that these images are extracted from scanned page images that may have been digitally enhanced for readability - coloration and appearance of these illustrations may not perfectly resemble the original European Regional Conference on Electron Microscopy (1st : 1956 : Stockholm); Sjöstrand, Fritiof S. (Fritiof Stig), 1912-; Rhodin, Johannes A. G. New York : Academic Press
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