. Electron microscopy; proceedings of the Stockholm Conference, September, 1956. Electron microscopy. Ahhildimg von Kristallgitterstrukturcn 97 nen, vvurde die Schaltung des Elmiskop I abgeandert. Der Kondensor K 1 vvurde aus dem Stromkreis des Mikroskops herausgenommen, durch cine unabhan- gige Spannungsquelle von 120 V gespcist iind mit einem eint'achen Schiebcwiderstand eingestcllt. Es wurde bei moglichst schwachen Intcnsitatcn am Objekt (10"^ A cm- - 10^* //A /<-) gearbeitet, wcil die Kristallage sonst nicht stabil genug war oder die Kristalle gar verdampftcn. Die Aufnahmen vviirdc
. Electron microscopy; proceedings of the Stockholm Conference, September, 1956. Electron microscopy. Ahhildimg von Kristallgitterstrukturcn 97 nen, vvurde die Schaltung des Elmiskop I abgeandert. Der Kondensor K 1 vvurde aus dem Stromkreis des Mikroskops herausgenommen, durch cine unabhan- gige Spannungsquelle von 120 V gespcist iind mit einem eint'achen Schiebcwiderstand eingestcllt. Es wurde bei moglichst schwachen Intcnsitatcn am Objekt (10"^ A cm- - 10^* //A /<-) gearbeitet, wcil die Kristallage sonst nicht stabil genug war oder die Kristalle gar verdampftcn. Die Aufnahmen vviirdcn auf Kranz-Feinkorn-Platten (15 10 DiN) mit Be- lichtungszeiten von 1 min gemacht. Ahbildimg der Netzebencn hci Ahweichimg vom Bragg-Winkel.—Wir untersuchten weiterhin die Frage, wie weit dcr Winkel zwischcn Netzebene und einfallendem Strahl abweichen darf, ohne dali der Kontrast in der Abbildung der Netzebenen allzu stark abnimmt. Ein Cu-Phthalocyanin-Einkristall, dessen 001-Netzebenen sich in Interferenzstellung befanden. wie mit Hilfe der Kleinfeldbeugung fest- gestellt wurde. wurde bei 1 SOOOOfacher VergroBerung photographiert. Dann neigten wir das gesamte Prii- parat mit der Stereoeinrichtung urn 3 . Der Kipp- winkel um eine Achse parallel zu den Netzebenen betrug daher keinesfalls mehr als 3 , wahrscheinlich sogar weniger. Nach dieser Neigung wurde der Kristall noch einmal photographiert (Abb. 5a, h). Man erkennt auf dem oberen Bild, daB die Netz- ebenen nur in einem Teil des Kristalles mit hohem Kontrast abgebildet werden. Auf dem unteren Bild hat sich der Bereich, in dem die Netzebenen mit hohem Kontrast abgebildet werden, verlagert. Dar- aus muB geschlossen werden, daB der Kristall ver- bogen Oder geknickt ist. In einem Bereich des Kri- stalls, der sich dem Gebiet guter Abbildung der Netzebenen anschlieBt, erkennt man auf beiden Bil- dern eine Kriimmung von Netzebenen und Unregel- miiBigkeiten im Gitter. An dieser Stelle liegt ofTen- sichtlich der Knick im Kristall.
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