Electron microscopy; proceedings of the Stockholm Conference, September, 1956 electronmicrosco00euro Year: 1957 Observation directe des surfaces metallk/ues Kig. 2. White pearlitic cast-iron etched by cathode sputtering. Experimental conditions: Oj =^ 2°,02= 23 : ratio ol'theciiarac- teristic magnitkations: Objective focal length/^ mm. Objective diaphragm: 2 r = 30 microns. Direct magnification: 1800. Exposure time: 15 seconds. This photograph has been obtained by joining together three photographs which were taken with slightly dilTerent focusing, corresponding to a knov\n varia
Electron microscopy; proceedings of the Stockholm Conference, September, 1956 electronmicrosco00euro Year: 1957 Observation directe des surfaces metallk/ues Kig. 2. White pearlitic cast-iron etched by cathode sputtering. Experimental conditions: Oj =^ 2°,02= 23 : ratio ol'theciiarac- teristic magnitkations: Objective focal length/^ mm. Objective diaphragm: 2 r = 30 microns. Direct magnification: 1800. Exposure time: 15 seconds. This photograph has been obtained by joining together three photographs which were taken with slightly dilTerent focusing, corresponding to a knov\n variation ofthe resistance \\hich is placed in series u ith the objective. Autrement dit : si 0^ reste petit, la dispersion des vitesses des electrons difTuses n'augmente pas sen- siblement avec 0,.' L'emploi de grands angles d'observation (0. 15 ) ^ Pour preciser ce resultat, nous faisons actuellcment une etude experimental directe de cette dispersion en fonction de Oi et 02 par spectrographie des vitesses electroniques; I'element dispersif (en pointille sur la fig. 1) est monte sur le microscope electronique par reflexion, el permet d'obtenir le spectre des vitesses des electrons diffuses par une region choisie de I'objet. - Diverses consequences resultent de Temploi de grandes valeurs deSg • bande de nettcte plus large, sensibiliteau relief plus grande Nous n'insistons pas ici sur ces resultats, qu'il est facile de prevoir (4). change completement Taspect des images. Nous avons principalcmcnt utilise des valeurs de Oi •- Sj = 25 , soit 0., ly. La figure 2 montrc une image obtcnuc dans ces conditions. Le rapport A/, A/.., caractoristiquc de la distorsion des images, est A/, M. au lieu de 15 pour 0., - 4 .- Reduction de la distorsion des images par une leniille correctrice.—Pour rcduire encore davantage cette distorsion (quel que soit 0,), nous avons en outre utilise I'artifice suivant. Un systeme a symctrie non axiale est dispose apres Ic projecteur. Son role est
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