. Ion, a journal of electronics, atomistics, ionology, radio-activity and raumchemistry . al vergrofiert. Fur die Messung dieserdiinnen Films wurde ein neuer Typus von Interferometer konstruiert. Das Interferometer. Das von einer Quelle S (Fig. 5) ausgehende Licht wurde durch ein diinnes Silber-oberflachenhautchen auf der planparallelen Platte C in zwei Teile geteilt. Der reflek-tierte Teil wurde durch einen Spiegel A auf einen Spiegel F reflektiert, wahrend dertransmittierte Teil durch den Spiegel B auf denselben Spiegel F reflektiert Spiegel F (Fig. 6) wurden beide Strahlen, die si
. Ion, a journal of electronics, atomistics, ionology, radio-activity and raumchemistry . al vergrofiert. Fur die Messung dieserdiinnen Films wurde ein neuer Typus von Interferometer konstruiert. Das Interferometer. Das von einer Quelle S (Fig. 5) ausgehende Licht wurde durch ein diinnes Silber-oberflachenhautchen auf der planparallelen Platte C in zwei Teile geteilt. Der reflek-tierte Teil wurde durch einen Spiegel A auf einen Spiegel F reflektiert, wahrend dertransmittierte Teil durch den Spiegel B auf denselben Spiegel F reflektiert Spiegel F (Fig. 6) wurden beide Strahlen, die sich bestandig parallel blieben, aufden Spiegel E und von demselben wiederum zuriick auf F reflektiert und so irgendeine gewunschte Anzahl Mai zwisehen E und F hin und zuriick. Diese Zahl war nurdurch den Einfallswinkel auf den Spiegel F, den Winkel zwisehen den Spiegeln E undF, die vertikalen Dimensionen von E und F und durch die Beleuchtungsintensitatbegrenzt. 15) Dicke des Keils in diesem Punkte gemessen. 1910] ZEITSCHR1FT FUR ELECTRONIK, ATOMISTIK, IONOLOOIE, RADIOACTIVITAT etc. 373. Nachdem man die beiden Strahlen zwischen E und F eine gewiinschte AnzahlMale hin und hergesandt hat, konnen solche auf ihrem Wege wieder zuriickgeschicktwerden. Indem man dieseiben in der Richtung 1C betrachtet, so kann man infolgeihrer partiellen Reflektion und Transmission bei C eine Interferenzerscheinung wahr-nehmen. Die Spiegel und planparallelen Platten A, B, C und D maBen 2,5 X 4 cm,die Spiegel E und F 6 X 8 cm. Wenn der Spiegel F vertikal geteilt, und ein Teil desselben parallel zur Lagedes Instrumentes verschoben wurde, so bestand die folgende Beziehung zwischen derwirklichen Verschiebung und der Zunahme der Weglange des korrespondierendenLichtstrahls: Dn = 2d cos nx cos (n — 1) x I -.— —tt—- \cos nx cos (n — 1) x cos (n — 2) x cos (n — 3) x cos cos (n — 1) x cos (n — 2) x worin x = Winkel zwischen den Spiegeln E und F; Dn — wirkliche vom Strahl zwischen den Spi
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