. Electron microscopy; proceedings of the Stockholm Conference, September, 1956. Electron microscopy. Fig. 5. Generalisation a line lenlille dissymetrique dc Texpres- sion de la topographic qui resulte de {'assimilation de la lentillc symetrique a un solenoTde. Lc paramctre caractcristi- quc est; y> + 0,45Z)i + d\. de 0,15 dans les conditions donnees par la figure 7 (2). (c) La figure 7 donne egalement la condition que doit satisfaire la distance a partir de laquelle il est possible d"elargir le canal perce dans les pieces polaires, sans affecter la forme de la topographic (2). Express
. Electron microscopy; proceedings of the Stockholm Conference, September, 1956. Electron microscopy. Fig. 5. Generalisation a line lenlille dissymetrique dc Texpres- sion de la topographic qui resulte de {'assimilation de la lentillc symetrique a un solenoTde. Lc paramctre caractcristi- quc est; y> + 0,45Z)i + d\. de 0,15 dans les conditions donnees par la figure 7 (2). (c) La figure 7 donne egalement la condition que doit satisfaire la distance a partir de laquelle il est possible d"elargir le canal perce dans les pieces polaires, sans affecter la forme de la topographic (2). Expressions universelles dcs caracteristiqucs electro- optiqiics.—Les caracteristiqucs electro-optiques des lentilles ont ete calculees par differents auteurs (7, 8, 9). Les resultats de ces calculs sont donnes par des faisceaux de courbes assez mal commodes a consulter, aussi a-t-on cherche une representation unique d'utilisation aisee (10). Dans cet ordre d'idees nous avons propose des expressions universelles utilisant la notion de lentilles dans des etats d'excita- tion correspondants (3, 4). 8"lf»""' oinirnjjtf duchamp ma'' <*"""' Pi fcrrpo/a I re f I ^r doi^'j. 4 000 * 000 ttcilalion (IT) Fig. 6. Pour les excitations inferieures a 1000 S amperes- tours j'etaicmcnt de la topographic est invariahle. Pour les excitations superieures a 1000 5 il varie lineairemenl en fonc- tion de Please note that these images are extracted from scanned page images that may have been digitally enhanced for readability - coloration and appearance of these illustrations may not perfectly resemble the original European Regional Conference on Electron Microscopy (1st : 1956 : Stockholm); Sjöstrand, Fritiof S. (Fritiof Stig), 1912-; Rhodin, Johannes A. G. New York : Academic Press
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